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--时间:11月30日,周三下午,14:00—17:00
" C+ E& _# i- ^$ G) u--地点:增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
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# n5 _: [( E3 u( f: }研讨会简介
$ n( u' C! F2 c2 ]8 H# l美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计,以及软硬件的无缝连接等特点,在显著减少系统构建时间和成本的同时,带来灵活与自定义的测控应用。! A, X- v* h9 Q/ D& F
本场研讨会,NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术,帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
8 i; [ Z9 p& C; H; I与此同时,在研讨会中,NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示,
) E: ]: H+ b1 B研讨会摘要
* s% w3 b( i! F9 ]' d1 p7 D•自动化测试测量领域发展的趋势
; r; Z' [% j# m" \1 Y3 B5 a( l2 f9 h -20多年测试测量领域的发展历史( H- x7 o9 y. D8 `# a
-细数当今主流的测试测量发展趋势
. Q- ?/ |& ]! [+ ] -如何实现测试应用的成功
* t6 E; F9 w% X- L. z/ `: x•控制与测试相结合应用 # b; J; l% f% I7 \
-控制设计的考虑因素
2 e% t* U7 }% o) Q6 a -如何实现高效的控制应用
% h3 G% n; _& v•总结9 A' l9 U: |5 a/ L
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