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--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:00
7 O/ j2 g" D) t6 M0 ^) m--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)( q- f* s3 k" s6 Y, Z
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研讨会简介 d; O1 c7 [( S1 }; P$ N
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。
+ y9 P$ K9 u& {. F6 t8 E- r- C4 V. L本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。 / C* x" w- J1 V
与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，+ g+ W: ~# o8 L! y. ^" r! T
研讨会摘要
8 V8 m9 ^, k3 X1 x7 O* O•自动化测试测量领域发展的趋势
! E- \4 Q1 s( {. c" l1 ` -20多年测试测量领域的发展历史* O5 ^! y: p, j1 s* A
-细数当今主流的测试测量发展趋势
- }0 W5 A T* J+ S9 k& F -如何实现测试应用的成功 " q9 h, F8 ] M; h
•控制与测试相结合应用 9 w: ~2 n, l- z0 a/ k
-控制设计的考虑因素5 x9 b+ H" d' n$ i
-如何实现高效的控制应用$ T( u: _3 @( V" f3 i: [) k
•总结7 J( q: d ?+ S, t5 s/ m
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发表于 2011-11-25 14:50
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