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--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:00" r& i! ~/ g' R/ \ ?6 x" u" ~
--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
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研讨会简介 2 {( g9 r& W( B; |( b$ g2 {
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。+ t7 M9 `% T9 o* l8 m1 i
本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
3 T" k9 n0 {/ ^, n$ H5 R; U与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，
9 J1 b ~" B/ f! B6 T& x研讨会摘要 6 L5 y: ~/ \1 q1 U* I
•自动化测试测量领域发展的趋势 . j# w: C% r1 x5 x
-20多年测试测量领域的发展历史. B0 P8 k1 M/ a
-细数当今主流的测试测量发展趋势
8 d2 V7 R) X" ]4 Y4 g -如何实现测试应用的成功
3 M2 ?, t, w! ^•控制与测试相结合应用
& _6 C3 X X, [% k4 @+ t+ v' z -控制设计的考虑因素3 i) ^8 U0 P# F
-如何实现高效的控制应用7 k5 u" l3 K) d9 w5 P J" O) Z
•总结1 v: ~8 g- T8 _& R0 y
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发表于 2011-11-25 14:50
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