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--时间:11月30日,周三下午,14:00—17:001 z3 ~# @1 c& g+ b' G
--地点:增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
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" }4 X/ a3 z4 ~9 f) p- d$ O$ J. o研讨会简介 9 B0 }5 x/ J6 F( p* \ ~
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计,以及软硬件的无缝连接等特点,在显著减少系统构建时间和成本的同时,带来灵活与自定义的测控应用。
2 k3 \8 G8 ]# |7 {( x, F4 i: j本场研讨会,NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术,帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。 9 z5 B [0 R& R+ R) L0 I- p
与此同时,在研讨会中,NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示,( i, G& |0 H( {0 L
研讨会摘要
) t7 @+ ~* t! \5 q•自动化测试测量领域发展的趋势
3 m& \' ~( U( j( L3 ~1 n1 a -20多年测试测量领域的发展历史
9 m9 a0 p6 [/ G5 A* D# a1 _ -细数当今主流的测试测量发展趋势
. m9 T( M8 Q$ [4 h/ d. J4 K -如何实现测试应用的成功 4 s0 O. p, p1 _) L: p8 Z
•控制与测试相结合应用
5 {6 \; y4 }1 J# o -控制设计的考虑因素
) S+ {+ f6 O2 g' m2 T5 z( B' V -如何实现高效的控制应用) }9 d3 j7 z# \* F! R6 @$ ?
•总结
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