理工类老师同学请注意！——美国国家仪器免费培训会！！

电子工程

--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:00
--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
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  N, x0 d7 L, v3 z" a# Z- J! c' s. b, ^研讨会简介
* W! R% x) S' J  u$ d6 A/ Q, g美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。
本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，
研讨会摘要
- O1 T7 P) l) ^% c  Y•自动化测试测量领域发展的趋势
- o& H9 [  C; n        -20多年测试测量领域的发展历史
        -细数当今主流的测试测量发展趋势
7 {( U; q; ?) i0 [        -如何实现测试应用的成功
•控制与测试相结合应用
% c6 G1 b' `' D0 p0 J, T        -控制设计的考虑因素
8 k) w: Y2 b$ m3 v, `/ `        -如何实现高效的控制应用
) _, {# F8 z4 O: ]6 m0 [•总结
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