|
|
--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:006 n$ j* f# T, |. ]! g4 h. r3 r
--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
+ X Y, Q n7 e6 v4 \# L4 j4 o
研讨会简介 8 t: ^$ v+ j: L: w$ \* ?5 a7 s
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。' K* I7 X9 p& a4 v/ B
本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
0 o9 i% }: ?2 Y: X与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，
4 A4 N8 {8 W# @研讨会摘要 & z; O2 P6 B5 L, j
•自动化测试测量领域发展的趋势 0 w6 z+ p& o, o4 f4 r8 o
-20多年测试测量领域的发展历史* _% k7 K3 ~ w( H2 I
-细数当今主流的测试测量发展趋势8 J9 I5 X+ X' H1 D* E* z
-如何实现测试应用的成功 , \9 U7 |3 }: T0 W1 B* p
•控制与测试相结合应用
2 P/ O- S" ?0 M. f7 P! s! M$ s! a -控制设计的考虑因素
" T8 g6 b) m8 n6 I -如何实现高效的控制应用5 F4 O6 m9 p& ^0 O" t- G1 W" N0 |
•总结" |! b0 P0 E1 H: P
|
|
IP卡
狗仔卡
发表于 2011-11-25 14:50
提升卡
置顶卡
沉默卡
喧嚣卡
变色卡
显身卡