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--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:004 `' u1 r7 U1 A* H5 o7 o4 `5 C( w) E
--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
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研讨会简介 8 l" x, C: G/ a( ^% @! W6 Z
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。" N0 y/ [) x! X6 c
本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。 / c* w, U7 m9 B4 D7 U; D3 A( ?
与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，
; [6 ~6 X! r" {; a3 B& y* J研讨会摘要 9 n# Q. c+ t) B" {! i: r; _7 @
•自动化测试测量领域发展的趋势 ?+ Q0 }6 a$ n7 y& x. b
-20多年测试测量领域的发展历史
3 Y- H4 Y$ k- }- |+ i -细数当今主流的测试测量发展趋势
' M1 y: J" V/ W" { -如何实现测试应用的成功
- U+ S0 R" a u1 L! z$ K•控制与测试相结合应用 2 ^! q' \( q+ w7 {0 q
-控制设计的考虑因素
- M6 D( P! z; f8 v7 h -如何实现高效的控制应用
" {/ W. D8 R& Q9 u. y0 W•总结) f! v; W0 J. u- F8 c$ e
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发表于 2011-11-25 14:50
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