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--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:008 L9 a% M) } y9 I5 [$ N% I+ E
--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
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研讨会简介
( z6 J7 u+ V7 i6 B9 ~美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。
, I$ ?4 M+ {# @& ?6 V2 d本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。 + Y, }5 V, ]+ A% s) _' b. [. W i# x
与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，* R. p4 k& ~, ]0 R Z; E4 @6 d
研讨会摘要 6 ~$ C2 \$ S5 E L# G0 h+ o. w
•自动化测试测量领域发展的趋势 9 a9 b" m0 K% N! b( i
-20多年测试测量领域的发展历史
n1 G8 Z0 g: F1 {4 { -细数当今主流的测试测量发展趋势
( r( O* f& Q2 r/ y -如何实现测试应用的成功 0 Q- q( m3 ^$ {1 n; q. Q
•控制与测试相结合应用 t" Z" m0 L( F$ A2 X J
-控制设计的考虑因素5 w! l- |$ u( g1 B; _3 \
-如何实现高效的控制应用) T) u7 s, C* j1 \' k5 {1 M
•总结
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发表于 2011-11-25 14:50
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