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--时间:11月30日,周三下午,14:00—17:00$ U' t, s( X2 i) K9 y( g1 S8 c. L
--地点:增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道) t/ }, F! D3 B8 _; K& c$ l) u8 S
* _' G% K. f& L% p研讨会简介 # `( y. \& R- O8 i2 ]) v$ S* ?
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计,以及软硬件的无缝连接等特点,在显著减少系统构建时间和成本的同时,带来灵活与自定义的测控应用。
2 X0 A7 M, \" a* W. X, q0 e- Q) r本场研讨会,NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术,帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
, Q% n8 K3 ?$ d! S% F" e' M5 Y( e与此同时,在研讨会中,NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示,$ h0 H/ y+ O- Y( S" j) d
研讨会摘要
( @! Z6 p- V& R* ~% {7 @5 k•自动化测试测量领域发展的趋势
& @4 s3 i4 |4 k4 k -20多年测试测量领域的发展历史 p9 J0 k( i0 B) u. @! Q w( i. S
-细数当今主流的测试测量发展趋势
- p. w5 y4 e( c1 x; {# b/ m3 K -如何实现测试应用的成功 * E! }1 F% i; U: U. p0 J: Y: g
•控制与测试相结合应用
. W0 k5 Y7 k, @5 a9 b8 Y -控制设计的考虑因素
" c) r1 d) m; w9 R( `; } -如何实现高效的控制应用
% v- P% R7 ~# N `. k P•总结! \* \3 u; g; W p& e5 q" J9 s% P3 d7 f
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