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--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:00* B$ P U5 a: F: M
--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
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研讨会简介 , b- F0 M6 _% \# U
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。2 Z" o% l( B6 T, z+ ^
本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
- X+ }& b4 H- a8 J7 z! ^$ i与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，) h+ d4 [- r# e& b% J
研讨会摘要
& X+ j% X- `8 u& Z2 P•自动化测试测量领域发展的趋势 ) q7 A' k! Q# t5 |4 A2 S5 V
-20多年测试测量领域的发展历史
. a0 `) q. `4 ]( {# g -细数当今主流的测试测量发展趋势
: z& C( B# C* ~, v -如何实现测试应用的成功
8 A, X) d p) \9 D3 c( v•控制与测试相结合应用
, `; s! ^; ?5 ^- w -控制设计的考虑因素: z8 A6 ?' c+ o! n3 T1 F1 p) L! S/ @
-如何实现高效的控制应用
5 [$ @8 g- C! ~, h•总结' K1 H( L* x8 \- c6 G
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发表于 2011-11-25 14:50
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