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--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:002 l- C1 o& m7 c: f( r6 [/ R2 D
--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)' p# r# Z# d' c6 e
/ S# n! {5 v+ `6 u9 {# f研讨会简介 ; E5 Q. Q0 R+ a3 h
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。/ U9 x6 h3 t/ x0 W/ S+ g
本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。 7 l8 ]5 D- w6 k! c, S" M
与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示，% l0 \+ I$ C4 l! k( ]0 a
研讨会摘要 + m7 ^# x m0 i
•自动化测试测量领域发展的趋势
2 ~& @8 n* ?7 w$ p- h6 E -20多年测试测量领域的发展历史
. l' }; u4 r1 b$ y: ?0 p -细数当今主流的测试测量发展趋势& ?1 O. l, G V& e1 w5 F
-如何实现测试应用的成功 8 Z; B- ` d! C& ^
•控制与测试相结合应用
: I* }. e( c/ o6 Q -控制设计的考虑因素2 X0 F! k" P( |# ^, Y
-如何实现高效的控制应用; @$ \2 L) o( m T1 s" G
•总结9 e8 c5 v3 u }4 Z! o" u3 J
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发表于 2011-11-25 14:50
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