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--时间：11月30日，周三下午，14:00—17:00
--地点：增城宾馆105会议室(中国广州增城市荔城增城大道)
研讨会简介
美国国家仪器公司(NI)为工程师和科学家提供了面向测试测量与控制的完整平台。借助革新式的图形化系统设计，以及软硬件的无缝连接等特点，在显著减少系统构建时间和成本的同时，带来灵活与自定义的测控应用。
本场研讨会，NI资深工程师会带您深入了解测试测量与控制的核心平台及前沿技术，帮助您实现测试、测量与控制的创新型应用。
与此同时，在研讨会中，NI工程师还将穿插各种精彩的应用演示。
研讨会摘要
•自动化测试测量领域发展的趋势
-20多年测试测量领域的发展历史
-细数当今主流的测试测量发展趋势
-如何实现测试应用的成功
•控制与测试相结合应用
-控制设计的考虑因素
-如何实现高效的控制应用
•总结
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发表于 2011-11-25 14:51
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